一種光學三維形貌測量方法，先按照實際測量要求，布置好由投影系統(tǒng)、相機組成的測量系統(tǒng)；然后根據測量需要設計條紋圖并由投影系統(tǒng)投影到被測物體表面，被物體反射的條紋圖由相機采樣；再從采樣條紋圖解調出包裹相位，解包裹后得到條紋圖的真實相位值；然后由遠心鏡頭的放大率、相機像元大小及采樣條紋圖的圖像坐標求解得到被測物體X、Y軸坐標；最后標定得到投影系統(tǒng)的相關參數，結合條紋相位，根據三角關系求得被測物體Z軸的坐標；本發(fā)明標定過程簡單，既提高了三維坐標的求解速度又能達到更高的測量精度；一次標定即可保證之后所有測量的使用，效率很高。

背景技術：S維測量在快速成型、質量檢測中有著廣泛的需求。同時，它在逆向工程、醫(yī)療等 領域也有著廣泛應用。傳統(tǒng)的=維測量方法主要是接觸式測量，如=坐標測量機。隨著光學 技術的進步，光學=維測量技術得到了長足的發(fā)展，被越來越廣泛地應用到=維測量中。典 型的光學=維測量方法有點激光掃描測量、線激光掃描測量、結構光投影測量及干設測量 等。其中，基于正弦條紋投影的結構光投影=維測量方法，由于操作便捷、測量精度較高、測 量速度快、適應性好等優(yōu)點，是一種非常優(yōu)越的=維測量手段。
[0003] 正弦條紋投影=維測量輪廓術需要投影正弦條紋到被測物體表面，反射的條紋圖 像被相機采樣得到，求解采樣條紋相位后，結合標定得到的測量系統(tǒng)參數，即可由相位恢復 被測物體的=維形貌?，F有的正弦條紋投影=維測量輪廓術具有W下特點：投影的正弦條 紋圖的相位在整個圖像平面內沿某一方向呈線性變化;在由單相機-單投影儀構成的測量 系統(tǒng)中，相位到被測物體=維形貌的轉化總會用到由投影光線與相機采樣光線之間構成的 =角關系，很多情況下需要一個參考面，=維求解過程復雜。